二次靶轻元素材料分析仪
X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中,引进专利技术,重新定义了“先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案,同时,为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。以高精度、sub-ppm检测精度为特色,在环保、地
制冷型光谱光度/色度/辐射度计
PR730 /740 探测光谱范围为可见光范围:380 nm- 1080nm,是近红外检测的理想选择。该系列设备具有更高的探测灵敏度、无偏振误差、更高的杂散光抑制能力,提供更多可选的光阑,同时可以提供两倍数量的探测器,并增加了USB 、RS232 和蓝牙通讯接口,全彩触摸屏显示及SD测量
赛默飞iCE™ 3400 AAS 原子吸收光谱仪
赛默飞iCE™ 3400 AAS 原子吸收光谱仪低成本的石墨炉 AAS 系统为面临挑战性检测限和需要进行石墨炉元素分析的实验室提供完整的解决方案。