日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服・光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。
产品货号：M-210/220/230/240/550/ELC-300 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1697 商家询价
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过・反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过・反射特性的评价、半导体的能隙测量，计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域。
产品货号：MSV-5000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：3979 商家询价